QFN56芯片老炼夹具—qfn芯片老化测试座—QFN烧录座(定制品）

深圳德诺嘉电子生产的QFN56pin芯片老炼夹具—qfn芯片

老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

QFN56pin芯片老化测试座规格参数：

芯片封装形式：QFN

芯片引脚：56pin

芯片引脚：0.4mm

适配芯片尺寸：7*7mm

适用QFN56pin芯片测试环境：老化、测试、编程烧录

QFN56pin芯片老化测试座产品简介：

芯片测试电流：300mA

芯片测试频率：1Ghz

芯片测试温度：-55°~+175°

芯片测试座结构：旋钮翻盖式

芯片测试座材料：合金

工程师技术支持电话微信同号：13267043095