QFN56芯片测试座socket—QFN芯片测试夹具—QNF老化座(定制品）

QFN56pin芯片测试座socket—QFN芯片测试夹具

深圳德诺嘉电子生产的QFN56pin芯片测试座socket—QFN芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

使用于QFN56pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片性能测试、功能测试、导通测试

QFN56pin芯片测试socket规格参数：

芯片封装形式：QFN

芯片引脚：56pin

芯片引脚间距：0.35mm

适配芯片尺寸：6*6mm

QFN56pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试频率：2.5Ghz

芯片测试电流：小于1A以内

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试夹具结构：翻盖式

芯片测试座材料：合金

工程师技术支持电话微信同号：13267043095