QFN16芯片老化测试座socket—QFN芯片老炼夹具—QFN16烧录座（定制品）

QFN16pin芯片老化测试座socket—QFN芯片老炼夹具

深圳德诺嘉电子生产的QFN16pin芯片老化测试座socket—QFN芯片老炼夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN16pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

QFN16pin芯片测试夹具产品简介：

QFN16pin芯片测试座socket规格参数：

芯片封装形式：QFN

芯片引脚：16pin

芯片引脚间距：0.5mm

适配芯片尺寸：4*4mm

芯片测试频率：5000Mhz

芯片测试电流：1A

芯片测试温度：-45° ~+125mm

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试socket夹具材料：合金

工程师技术支持电话微信同号：13267043095