DFN14pin芯片测试座socket—dfn芯片测试夹具（定制品）

深圳德诺嘉电子生产的DFN14pin芯片测试座socket—dfn芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于DFN14pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片性能测试、芯片功能测试、芯片导通测试、芯片可靠性测试。

DFN14pin芯片老化测试socket产品简介：

芯片测试电流：单pin电流1A

芯片测试工作温度：-45°~+145°，持续工作时长：2000小时

芯片老化座结构：翻盖式

芯片老炼夹具材料：合金

DFN14pin芯片老化测试夹具规格参数：

芯片封装形式：DFN

芯片引脚：14pin

芯片引脚间距：0.65mm

适配芯片尺寸：4.5*3mm

工程师技术支持电话微信同号：13267043095