QFN28pin芯片老化测试座socket—qfn芯片老炼夹具（现货标品）

深圳德诺嘉电子生产的QFN64pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN64pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

QFN64pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试电流：800mA

芯片测试频率：6000Mhz

芯片测试温度：-45°~+145°

芯片测试夹具结构：翻盖式

芯片测试socket材料：PEI

QFN64pin芯片测试夹具规格参数：

芯片封装形式：QFN

芯片引脚：64pin

芯片引脚间距：0.5mm

适配芯片尺寸：10.9*10.9mm

工程师技术支持电话微信同号：13267043095