DFN8pin芯片探针老化测试座socket—DFN芯片老炼夹具（现货标品）

深圳德诺嘉电子生产的DFN8pin芯片探针老化测试座socket—DFN芯片老炼夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用DFN8pin芯片测试环境：芯片模拟电路测试、烧录、老化

DFN8pin芯片老炼夹具产品简介：

芯片测试电流：200mA，持续电流时间：20s

芯片老化测试温度：-55°~+125°，单次老化时长1000小时

DFN芯片老化测试座结构：翻盖式

芯片老炼夹具材料：PEI

DFN8芯片老化测试座规格参数：

芯片封装形式：DFN

芯片引脚：8pin

芯片引脚间距：0.5mm

适配芯片尺寸：1.98*2.98mm

工程师技术支持电话微信同号：13267043095