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QFN48pin芯片测试座socket—QFN芯片测试夹具(定制品)

发布日期:2024-11-16 14:37:05浏览次数:16
  • QFN测试座
  • QFN老化座
  • QFN烧录座
  • QFN测试夹具

深圳德诺嘉电子生产的QFN48pin芯片测试座socket—QFN芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍


适用QFN48pin芯片测试环境:老化、测试、烧录

QFN48pin芯片测试夹具产品简介:

芯片测试电流:平均<1mA/pin

芯片测试电压:3.3V

芯片测试频率:100Mhz

芯片测试温度:-45°~+125°

芯片测试座socket结构:翻盖式,需要架散热块

芯片测试夹具材料:合金

QFN48pin芯片测试座socket规格参数:

芯片封装形式:QFN

芯片引脚:48pin

芯片引脚间距:0.4mm

适配芯片尺寸:6*6mm

工程师技术支持电话微信同号:13267043095


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