您现在所在位置:首页>>产品中心>>QFN/DFN封装系列

新能源功率元器件系列

IC老化板方案

BGA封装系列

QFN/DFN封装系列

QFP/OTQ封装系列

SOP/OTS封装系列

TO封装系列

SOT封装系列

LCC封装系列

LGA封装系列

EMCP/EMMC/UFS系列

电容电阻系列

晶振系列

DDR系列测试夹具

IC测试治具

模块测试座

FPC/BTB连接器微针模组

MEMS探针卡

SMA/SMB/SMC/SMD封装

QFN16pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具(定制品)

发布日期:2024-11-16 14:51:26浏览次数:12
  • QFN测试座
  • QFN老化座
  • QFN烧录座
  • QFN测试夹具
  • QFN测试座

深圳德诺嘉电子生产的QFN16pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍


适用QFN16pin芯片测试环境:老化、测试、烧录

支持封装类型:QFN8/16-DFN8/16-WSON8/16

QFN8pin芯片测试座产品简介:

芯片测试电流:500mA

芯片测试温度:-45°~+125°

芯片测试频率:150Mhz

芯片测试座结构:翻盖式

芯片测试座材料:合金

QFN16pin芯片测试座规格参数:

适用芯片封装形式:QFN8/16-DFN8/16

支持芯片引脚:8pin/16pin

支持芯片引脚间距:1.0mm/1.27mm

适配芯片尺寸:6*6*1mm/5*5*1.7mm

工程师技术支持电话微信同号:13267043095




13715149812