QFN24pin芯片老炼座socket—qfn芯片老化测试夹具（现货标品）

深圳德诺嘉电子生产的QFN24pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于QFN24pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片HAST/HTOL测试

QFN24pin芯片老化测试夹具产品简介：

HAST测试：+130°，湿度85%

HTOL测试：温循：-55°~125°

芯片测试电流：500mA

单次满足1000小时

芯片老化座结构：翻盖式

芯片测试座材料：塑胶

QFN24pin芯片老化座规格参数：

芯片封装形式：QFN

芯片引脚：24pin

芯片引脚间距：0.6mm

适配芯片尺寸：5*6mm

工程师技术支持电话微信同号：13267043095