QFN24pin芯片老化测试座socket—qfn芯片测试夹具（定制品）

深圳德诺嘉电子生产的QFN24pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN24pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片HAST/HTOL测试

QFN24pin芯片测试座产品间距：

芯片测试电流：500mA

HAST测试：+130°，85%湿度

HTOL测试：温循-55°~+125°，单次满足1000小时

芯片老化座结构：旋钮翻盖式

QFN24pin芯片老化测试座规格参数：

芯片封装形式：QFN

芯片引脚：24pin

芯片引脚间距：0.5mm

适配芯片尺寸：4*4mm

工程师技术支持电话微信同号：13267043095