QFN40pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具（定制品）

深圳德诺嘉电子生产的QFN40pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN40pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

QFN40pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试电流：1A以内

芯片测试频率：100mhz

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试socket材料：合金

QFN40pin芯片测试座规格参数：

芯片封装形式：QFN

芯片引脚：40pin

芯片引脚间距：0.4mm

适配芯片尺寸：5*5mm

工程师技术支持电话微信同号：13267043095