QFN32芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具（现货标品）

深圳德诺嘉电子生产的QFN32芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN32pin晶振测试环境：老化、测试、烧录

QFN32pin晶振测试座产品简介：

晶振测试电流：600mA

晶振测试品频率：3Ghz

测试温度范围：-45°~+125°

晶振测试座结构：翻盖式

晶振测试座材料：塑胶

QFN32pin晶振测试座规格参数：

封装形式：QFN

引脚：32pin

引脚间距：0.5mm

适配尺寸：5*5mm

工程师技术支持电话微信同号：13267043095