QFN52-0.4(7*7)翻盖弹片老化座 军工芯片高低温老炼测试座 socket

深圳德诺嘉电子生产的 QFN52-0.4(7*7)翻盖弹片老化座 军工芯片高低温老炼测试座 socket  的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于QFN封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化，该款为烧录使用

适用引脚间距：0.4mm

适用芯片尺寸：7*7mm

芯片测试座寿命：10万次

芯片测试电流：1A

芯片测试频率：1000Mhz

芯片测试温度：-55~165℃

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：PPS

非标定制厂家：深圳德诺嘉电子有限公司

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