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功率器件DFN8翻盖探针芯片测试座—功率老化测试座(标准品)

发布日期:2024-11-07 09:32:29浏览次数:21
  • 功率器件测试座
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深圳德诺嘉电子生产定制的DFN8-0.65mm-3X3mm翻盖探针芯片测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于DFN8pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,芯片性能测试、芯片功能性测试、芯片可靠性测试

DFN8pin芯片测试夹具产品简介:

芯片测试电压:1000V

芯片测试电流:1A以内

芯片测试温度:-45°~150°

芯片测试座结构:翻盖式

芯片测试夹具材料:PEI

生产厂家:深圳德诺嘉电子有限公司

订购热线:13267043095 高工

(电话微信同号)


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