QFN40pin芯片老炼测试座socket—qfn芯片老化测试夹具（现货标品）

QFN40pin芯片老炼夹具规格参数：

芯片封装形式：QFN

芯片引脚：40pin

芯片引脚间距：0.4mm

适配芯片尺寸：5*5mm

深圳德诺嘉电子生产的QFN40pin芯片老炼测试座socket—qfn芯片老化测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于QFN40pin芯片测试环境：老练、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试、芯片性能测试，芯片HAST/HTOL测试

QFN40pin芯片老化测试夹具产品简介：

芯片HAST测试：需要多次试验

芯片老炼测试温度：+125°

芯片测试湿度：85%

芯片HAST测试时长：180小时/轮

芯片老炼座结构：翻盖式

芯片老化测试座夹具材料：PEI

工程师技术支持电话微信同号：13267043095 高工

（电话微信同号）