网站首页
产品中心
新能源功率元器件系列
IC老化板方案
BGA封装系列
QFN/DFN封装系列
QFP/OTQ封装系列
SOP/OTS封装系列
TO封装系列
SOT封装系列
LCC封装系列
LGA封装系列
EMCP/EMMC/UFS系列
WLCSP/CSP封装系列
电容电阻系列
晶振系列
DDR系列测试夹具
IC测试治具
模块测试座
FPC/BTB连接器微针模组
MEMS探针卡
SMA/SMB/SMC/SMD封装
其他IC测试座
产品专题
新闻中心
公司资讯
行业动态
常见问题
合作案例
IC测试座结构案例
IC老化板案例
联系我们
关于我们
企业文化
企业风采
公司资质
企业邮箱:dong@dnjsocket.com
您现在所在位置:
首页
>>
产品中心
>>
QFN/DFN封装系列
新能源功率元器件系列
IC老化板方案
BGA封装系列
QFN/DFN封装系列
QFP/OTQ封装系列
SOP/OTS封装系列
TO封装系列
SOT封装系列
LCC封装系列
LGA封装系列
EMCP/EMMC/UFS系列
WLCSP/CSP封装系列
电容电阻系列
晶振系列
DDR系列测试夹具
IC测试治具
模块测试座
FPC/BTB连接器微针模组
MEMS探针卡
SMA/SMB/SMC/SMD封装
其他IC测试座
QFN56-0.5(8*8)下压弹片老化座 芯片顶窗式高低温老炼测试夹具
QFN56-0.4(7*7)翻盖弹片针老化测试座 芯片编程烧录座 老炼socke
定制QFN56-0.4(7×7)合金下压探针测试座 顶窗式自动化机台老化座
QFN72pin-0.5(10*10)翻盖式弹片老化测试座 三温老炼测试 socket
QFN72pin-0.5(10*10)下压式弹片老化测试座 hast老炼测试座socket
QFN72pin-0.5(10*10)下压式弹片老化测试座 hast老炼测试座socket
DFN8-0.8(4×3mm)下压探针老化座 WSON8芯片顶窗测试夹具 socket
DFN8-0.8(4*4)翻盖探针测试座 QFN编程插座 军工级WSON8烧录座
DFN8-0.8(4*4)翻盖弹片针老化烧录插座 军工级芯片老炼测试夹具
共224条 当前11/25页
首页
前一页
···
9
10
11
12
13
···
后一页
尾页
友情链接:
粤ICP备2024195031号-1
XML地图
13715149812
微信号:13715149812
微信二维码