测试座材料：塑胶 QFP32pin-0.8mm-7*7mm翻盖老化测试座（现货标品）

深圳德诺嘉电子进口的QFP32pin-0.8mm-7*7mm翻盖老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

芯片老化测试座型号：进口QFP32pin-0.8mm-7*7mm，IC51-0324-1498

测试座品牌：Yamaichi

QFP32转DIP32编程座、烧录座、测试座

测试座结构：翻盖式

测试座材料：塑胶

QFP32pin芯片老化座规格参数：

芯片封装类型：QFP

芯片引脚：32pin

芯片引脚间距：0.8mm

芯片本体尺寸：7*7mm

芯片含引脚尺寸：9*9mm

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