德诺嘉电子生产的OTQ芯片测试座,QFP芯片烧录座,QFP芯片老化座,芯片测试夹具,芯片测试治具,芯片测试socket

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LQFP100pin-0.65-(14*20mm)翻盖老化测试座 QFP芯片烧录座socket

LQFP100pin-0.65-(14*20mm)翻盖老化测试座 QFP芯片烧录座socket

QFP208pin-0.5mm-28×28mm合金旋钮双扣式探针测试座（定制品）

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QFP48pin-0.5mm-7×7mm芯片下压弹片老化测试夹具（现货标品）

QFP48pin-0.5mm-7×7mm芯片下压弹片老化测试夹具（现货标品）

测试座材料：塑胶 QFP32pin-0.8mm-7*7mm翻盖老化测试座（现货标品）

测试座材料：塑胶 QFP32pin-0.8mm-7*7mm翻盖老化测试座（现货标品）

QFP100pin-0.5m下压htol老化座 LQFP老炼座 OTQ100芯片编程烧录座

QFP100pin-0.5m下压htol老化座 LQFP老炼座 OTQ100芯片编程烧录座

QFP32pin-0.8mm-7×7mm—翻盖弹片老化座（现货标品）

QFP32pin-0.8mm-7×7mm—翻盖弹片老化座（现货标品）

QFP64pin测试座socket—下压弹片老化测试座（现货标品）

QFP64pin测试座socket—下压弹片老化测试座（现货标品）

QFP100-0.5烧录编程座 LQFP100翻盖hast老化测试座穿孔焊接座

QFP100-0.5烧录编程座 LQFP100翻盖hast老化测试座穿孔焊接座

QFP100pin-0.65mm-20×20mm芯片翻盖老化测试座(现货标品)

QFP100pin-0.65mm-20×20mm芯片翻盖老化测试座(现货标品)

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