您现在所在位置:首页>>产品中心>>TO封装系列

新能源功率元器件系列

IC老化板方案

BGA封装系列

QFN/DFN封装系列

QFP/OTQ封装系列

SOP/OTS封装系列

TO封装系列

SOT封装系列

LCC封装系列

LGA封装系列

EMCP/EMMC/UFS系列

WLCSP/CSP封装系列

电容电阻系列

晶振系列

DDR系列测试夹具

IC测试治具

模块测试座

FPC/BTB连接器微针模组

MEMS探针卡

SMA/SMB/SMC/SMD封装

其他IC测试座

TO247-3pin功率器件测试座socket—TO测试夹具—TO烧录座(定制品)

发布日期:2024-11-09 19:48:16浏览次数:43
  • TO测试座
  • TO老化座
  • TO芯片测试座
  • TO烧录座

深圳德诺嘉电子生产的TO247-3pin功率器件测试座socket—TO测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于功率器件TO247测试环境:老化、测试、烧录,IC功能测试、IC性能测试、IC可靠性测试

TO247功率器件测试夹具产品简介:

功率器件测试电压: 50V

功率器件测试电流:5A

功率器件测试温度:150°*2H的单次循环

功率器件测试功耗:150W

功率器件测试座结构:翻盖式

功率器件测试夹具材料:合金

功率器件TO247-3L测试座规格参数:

功率器件封装:TO247

功率器件引脚:3pin

功率器件引脚间距:5.44mm

适配功率器件尺寸:15*41mm

工程师技术支持电话微信同号:13267043095


13715149812