HAST/HTOL高温高湿实验TO252-5L老化测试座—老化板（定制品）

深圳德诺嘉电子生产的HAST/HTOL高温高湿实验TO252-5L老化测试座—老化板的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于TO252-5L系列测试环境：老化、测试，HAST/HTOL高温高湿测试TO252-5L老化座+老化板产品简介：

TO-252-5L封装是一种常见的电子元件封装形式，它是一种塑料封装，用于将功率半导体器件封装在一块小的塑料块中。

这种封装形式具有体积小、重量轻、成本低、易于集成等优点，因此被广泛应用于各种电子设备中，如电源、电机控制器、逆变器等。

常见的TO252-5L老化座出自鸿怡电子，提供老化座+老化板整套HTOL\HAST试验方案，如下图所示为TO252-5L老化试验板，一板

由60只TO252-5L老化夹具组成。老化夹具最高可耐温175℃，PCB老化板采用特定老化材质，表层喷涂三防漆，整套老化板可以长期

在温度175℃，85%相对湿度的高温高湿老化环境下工作使用。

TO252-5L老化板+老化座

封装类型：TO252

适用于：HAST/HTOL测试，高温高湿测试

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