BGA200pin手机芯片测试治具—手机DDR内存颗粒测试治具

DDR200ball手机内存颗粒测试治具规格参数：

支持封装类型：DDR200ball/BGA200pin

芯片引脚：200pin

引脚间距：0.8mm

适配芯片尺寸：10*15mm

深圳德诺嘉电子生产的BGA200pin手机芯片测试治具—手机DDR内存颗粒测试治具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用DDR200ball/BGApin手机芯片测试环境：老化、测试、烧录

DDRball内存颗粒测试治具产品简介：

芯片测试速率：4000Mbps

芯片测试频率：1Ghz

芯片测试温度：-45°~+145°

手机BGA芯片测试治具结构：旋钮翻盖式

芯片测试治具材料：合金

工程师技术支持电话微信同号：13267043095 高工

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