DDR3—BGA84pin—芯片测试座socket(定制品)

深圳德诺嘉电子生产的DDR3-BGA84pin芯片测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于DDR3-BGA84pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

DDR3-BGA84pin芯片测试座产品简介：

芯片测试频率：300Mhz

芯片测试电流：800mA

芯片测试温度：-40°~+85°

PCIE GEN3测试频率：4Ghz

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：合金

DDR3-BGA84pin芯片测试座规格参数：

封装形式：DDR3-BGA

芯片引脚：84pin

芯片引脚间距：0.5mm

适配芯片尺寸：11.5*7.5mm

工程师技术支持电话微信同号：13267043095 高工

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