LCC22pin芯片测试座socket—LCC老化座—LCC socket（定制品）

深圳德诺嘉电子生产的LCC22pin芯片测试座socket—qfn芯片测试夹具的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用LCC22pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

LCC22pin芯片测试座产品简介：

芯片测试频率：100Mhz

芯片测试温度：-45°~+85°，测试时长：72小时

芯片测试电流：40mA

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：合金

LCC22pin芯片测试座规格参数：

芯片封装形式：LCC

芯片引脚：22pin

芯片引脚间距：2.03mm

适配芯片尺寸：15.2*15.2mm

工程师技术支持电话微信同号：13267043095