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LCC68pin芯片测试座socket—LCC芯片测试夹具—(定制品)

发布日期:2024-11-07 14:11:03浏览次数:17
  • LCC测试座
  • LCC翻盖老化座
  • LCC老化座
  • LCC测试底座

深圳德诺嘉电子生产的LCC68pin芯片测试座socket—LCC芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用LCC68pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试、芯片功能性测试

LCC68pin芯片测试夹具产品简介:

芯片测试电流:满足单pin1nA到10uA

芯片测试频率:300Mhz

芯片测试温度:-40°~+135°

芯片测试座结构:翻盖式

芯片测试夹具材料:合金

订购热线:13267043095 高工

(电话微信同号)




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