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MEMS Blade垂直针卡—晶圆测试探卡(现货标品)

发布日期:2024-11-07 16:34:52浏览次数:52
  • 晶圆测试探卡
  • 探针卡
  • 垂直探卡
  • 芯片测试探卡

产品介绍:

 MEMS Blade针卡是新开发出来的一款针对于晶圆测试产品,完美解决了目前悬臂卡针对于晶圆PAD氧化层穿刺力弱,

与PAD接触性差,导致测试不稳定等问题

该针卡精度高,过流能力强,速率和频率分别能达到20G Bps和10G Hz.

定位精度 :X-axis : ±5㎛    Z-axis : ±10㎛

速率:20G bps

频率:10G Hz

加工精度: ±2㎛

寿命(无外力因素):Max:10万次

单pin压力:10gf/300um

压接环境要求:一般无尘车间

压接平整度:±0.2°

压接异物:<(0.5倍space间隙)³

维护手法:更换Blade Pin(客户自行更换)   更换PCB(客户自行更换)

工程师技术支持电话微信同号:13267043095 高工

(电话微信同号)

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