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PLCC48-1.0mm(16.7*16.7)翻盖式老化测试座 陶瓷封装芯片老炼座

发布日期:2024-11-16 12:11:55浏览次数:21

深圳德诺嘉电子生产的 PLCC48-1.0mm(16.7*16.7)翻盖式老化测试座 陶瓷封装芯片老炼座  的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于PLCC封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为烧录使用

适用引脚间距:1.0mm

适用芯片尺寸:16.7*16.7mm

芯片测试座寿命:10万次

芯片测试电流:1A

芯片测试频率:1000Mhz

芯片测试温度:-55~165℃

芯片测试座结构:翻盖式

芯片测试座材料:PPS

非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司

工程师技术支持电话微信同号:13715149812




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