深圳德诺嘉电子生产的 SOD123-2L翻盖弹片老化测试座 军工级IC老炼座 芯片hast测试夹具 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于SOD123封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化，该款为烧录使用
芯片测试座寿命：10万次
芯片测试电流：1A
芯片测试频率：1000Mhz
芯片测试温度：-55~165℃
芯片测试座结构：翻盖式
芯片测试座材料：PPS
非标定制厂家：深圳德诺嘉电子有限公司
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