功率器件DFN8pin下压老炼测试夹具—功率器件老化测试座（标准品）

深圳德诺嘉电子生产的功率器件DFN8pin-1.27mm-5×6mm弹片下压老化座—功率器件老炼测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于功率器件DFN封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化，该款为老化测试使用

适用引脚间距：1.27mm

适用BGA芯片尺寸：5*6mm

芯片测试座寿命：30万次

芯片测试电流：200mA

芯片测试频率：150Mhz

芯片测试温度：-45°~+130°，老化时长：满足每次1000小时（共3次）

芯片测试座结构：下压式（支持自动化测试）

芯片测试座材料：PEI

IC老化座厂家：深圳德诺嘉电子有限公司

订购热线：13823541217

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