电容0603(6工位)翻盖弹片针老化插座 芯片高低温hast老炼测试夹具

深圳德诺嘉电子生产的 电容0603(6工位)翻盖弹片针老化插座 芯片高低温hast老炼测试夹具  的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于电容封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化，该款为烧录使用

适用芯片尺寸：0.6*0.3mm

芯片测试座寿命：10万次

芯片测试电流：1A

芯片测试频率：1000Mhz

芯片测试温度：-55~165℃

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：PPS

非标定制厂家：深圳德诺嘉电子有限公司

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