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BGA484-1.0(23*23)下压老化测试座 烧写编程座 自动化机台烧录座

发布日期:2024-11-07 14:30:43浏览次数:31
  • BGA484老化座
  • BGA484测试座


深圳德诺嘉电子生产的BGA484-1.0(23*23)下压老化测试座 烧写编程座 自动化机台烧录座   的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于BGA封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为烧录使用

适用引脚间距:1.0mm

适用芯片尺寸:23*23mm

芯片测试座寿命:10万次

芯片测试电流:1A

芯片测试频率:1000Mhz

芯片测试温度:-55~165℃

芯片测试座结构:按压式

芯片测试座材料:PPS

非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司

工程师技术支持电话微信同号:13715149812

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