深圳德诺嘉电子生产的功率器件QFN8pin下压式老炼夹具—QFN封装器件老化测试座socket的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 适用于QFN封装的功率器件模拟电路测试、烧录、老化，该款为老化测试使用 适用引脚间距：1.27mm 适用QFN封装的功率器件尺寸：6*8mm 芯片测试座寿命：15万次 芯片测试电流：小于1A 芯片测试频率：600Mhz 芯片测试温度：-55°~155℃ 芯片测试座结构：下压式（支持自动化测试） 芯片测试座材料：PEI 非标定制厂家：深圳德诺嘉电子有限公司
