TO247-4PIN弹片老化座 车规TO功率元器件IC芯片测试座 高低温htol

深圳德诺嘉电子生产的 TO247-4PIN弹片老化座 车规TO功率元器件IC芯片测试座 高低温htol的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介

  • 引脚数: 4pin
  • 间距: 2.54mm
深圳德诺嘉电子生产的  TO247-4PIN弹片老化座 车规TO功率元器件IC芯片测试座 高低温htol 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于TO封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为烧录使用
适用引脚间距:2.54mm
芯片测试座寿命:10万次
芯片测试电流:1A
芯片测试频率:500Mhz
芯片测试温度:-45~165℃
芯片测试座结构:下压式
芯片测试座材料:PPS
非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司
工程师技术支持电话微信同号:13715149812