SOT23-6L-1.3翻盖光座老化座烧录插座耐高温测试座hast老炼socket

深圳德诺嘉电子生产的 SOT23-6L-1 3翻盖光座老化座烧录插座耐高温测试座hast老炼socket的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

  • 引脚数: 6pin
  • 间距: 0.95mm
 
深圳德诺嘉电子生产的  SOT23-6L-1.3翻盖光座老化座烧录插座耐高温测试座hast老炼socket 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于SOT封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为烧录使用
适用引脚间距:0.95mm
芯片测试座寿命:10万次
芯片测试电流:1A
芯片测试频率:500Mhz
芯片测试温度:-45~165℃
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:PPS
非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司
工程师技术支持电话微信同号:13715149812