深圳德诺嘉电子生产的 TO263-7L转DIP7老化测试座1.27间距 镀金开尔文烧录夹具 IC插座 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于TO封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化，该款为烧录使用
适用引脚间距：1.27mm
芯片测试座寿命：10万次
芯片测试电流：1A
芯片测试频率：500Mhz
芯片测试温度：-45~165℃
芯片测试座结构：翻盖式
芯片测试座材料：PPS
非标定制厂家：深圳德诺嘉电子有限公司
工程师技术支持电话微信同号：13715149812
