QFN84pin-0.4mm芯片老化测试座—qfn芯片测试夹具 烧录座

深圳德诺嘉电子的进口QFN84pin-0 4mm芯片老化测试座—qfn芯片测试夹具 烧录座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍适用于QFN

  • 引脚数: 84PIN
  • 间距: 0.4mm
深圳德诺嘉电子的进口QFN84pin-0.4mm芯片老化测试座—qfn芯片测试夹具/烧录座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于QFN封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为测试使用
适用引脚间距:0.4mm
适用QFN芯片尺寸:10*10mm
①socket本体:PEI
②弹片材料:铍铜
③弹片镀层:镍金
芯片测试座结构:翻盖弹片式
芯片测试座生产厂家:深圳德诺嘉电子有限公司
工程师技术支持电话微信同号:13631539217