深圳德诺嘉电子生产的 QFN32pin-0.5mm(5*5)芯片翻盖式老化测试座老炼IC socket适配座夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 适用于QFN封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为烧录使用 适用引脚间距:0.5mm 适用芯片尺寸:5*5mm 芯片测试座寿命:10万次 芯片测试电流:1A 芯片测试频率:500Mhz 芯片测试温度:-45~165℃ 芯片测试座结构:翻盖式) 芯片测试座材料:PPS 非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司 工程师技术支持电话微信同号:13715149812