深圳德诺嘉电子生产的QFN40pin-0.4mm芯片测试座—qfn芯片下压老化座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 适用于QFN封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为测试使用 适用引脚间距:0.4mm 适用QFN芯片尺寸:5*5mm 芯片测试座寿命:10万次 芯片测试温度:-45~125℃ 芯片测试座结构:下压式 芯片测试座材料:PEI 芯片测试座生产厂家:深圳德诺嘉电子有限公司 工程师技术支持电话微信同号:13631539217