深圳德诺嘉电子生产的QFN40pin-0.4mm翻盖式芯片测试座—QFN芯片老化座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 适用于QFN封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化，该款为测试使用 适用引脚间距：1.27mm 适用QFN芯片尺寸：16*16mm 芯片测试座寿命：10万次 芯片测试温度：-45~125℃ 芯片测试座结构：翻盖式 芯片测试座材料：PEI 芯片测试座生产厂家：深圳德诺嘉电子有限公司 工程师技术支持电话微信同号：13631539217
