QFP80芯片测试座 htol老化座 0.5间距 OTQ-80-0.5-02B IC SOCKTE

深圳德诺嘉电子生产的QFP80芯片测试座 htol老化座 0 5间距 OTQ-80-0 5-02B IC SOCKTE 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家

  • 引脚数: 80pin
  • 间距: 0.5mm
 
深圳德诺嘉电子生产的 QFP80芯片测试座 htol老化座 0.5间距 OTQ-80-0.5-02B IC SOCKTE  的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于BGA封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为烧录使用
适用引脚间距:0.5mm
芯片测试座寿命:10万次
芯片测试电流:1A
芯片测试频率:500Mhz
芯片测试温度:-45~165℃
芯片测试座结构:下压式
芯片测试座材料:PPS
非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司
工程师技术支持电话微信同号:13715149812