深圳德诺嘉电子生产的QFN8pin-1.27mm芯片老化测试座—QFN芯片测试夹具/烧录座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于QFN封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化，该款为老化测试使用
适用于QFN封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化，该款为老化测试使用
适用引脚间距：1.27mm
适用QFN芯片尺寸：5*6mm
芯片测试座结构：下压式
①socket本体：PEI；
②弹片材料：铍铜；
③弹片镀层：镍金；
芯片老化测试座生产厂家：深圳德诺嘉电子有限公司
工程师技术支持电话微信同号：13631539217
