老化测试座TO3P TO247 TO264 80A间距5.45有耳锁紧插座htol烧录座

深圳德诺嘉电子生产的老化测试座TO3P TO247 TO264 80A间距5 45有耳锁紧插座htol烧录座 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家

  • 引脚数: 3pin
  • 间距:
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适用于TO封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为烧录使用
芯片测试座寿命:10万次
芯片测试电流:1A
芯片测试频率:500Mhz
芯片测试温度:-45~165℃
芯片测试座结构:下压式
芯片测试座材料:PPS
非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司
工程师技术支持电话微信同号:13715149812