IC测试座DFN8-0.8翻盖转DIP烧录座高温老化座4*4mm老炼夹具插座

深圳德诺嘉电子生产的IC测试座DFN8-0 8翻盖转DIP烧录座高温老化座4*4mm老炼夹具插座 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍适

  • 引脚数: 8pin
  • 间距: 0.8mm
深圳德诺嘉电子生产的IC测试座DFN8-0.8翻盖转DIP烧录座高温老化座4*4mm老炼夹具插座   的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于DFN封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为烧录使用
适用引脚间距:0.8mm
适用芯片尺寸:4*4mm
芯片测试座寿命:10万次
芯片测试电流:1A
芯片测试频率:500Mhz
芯片测试温度:-45~165℃
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:PPS
非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司
工程师技术支持电话微信同号:13715149812