5032晶振10pin测试座—DFN10-0.7mm测试座/老化测试夹具

深圳德诺嘉电子生产的5032晶振10pin测试座—DFN10-0 7mm测试座 老化测试夹具适用于BGA封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为烧录使用

  • 引脚数: 10pin
  • 间距: 0.7mm
深圳德诺嘉电子生产的5032晶振10pin测试座—SOP10/DF10-0.7mm测试座/老化测试夹具
适用于BGA封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为烧录使用
适用引脚间距:0.8mm
适用BGA芯片尺寸:6*8mm
芯片测试座寿命:30万次
芯片测试温度:常温
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:合金
非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司