深圳德诺嘉电子生产的2520晶振测试老化座IC socket高低温htol测试座2.5×2.0-4pin老炼 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 适用于晶振封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为烧录使用 适用引脚间距:1.27mm 适用芯片尺寸:2.5*2.0mm 芯片测试座寿命:10万次 芯片测试电流:1A 芯片测试频率:500Mhz 芯片测试温度:-45~165℃ 芯片测试座结构:翻盖式 芯片测试座材料:PPS 非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司 工程师技术支持电话微信同号:13715149812