定制5032-4pin晶振探针IC老化座5.0×3.2mm crystal socket测试座

深圳德诺嘉电子生产的定制5032-4pin晶振探针IC老化座5 0×3 2mm crystal socket测试座 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产

  • 引脚数: 4pin
  • 间距: 1.27mm
深圳德诺嘉电子生产的 定制5032-4pin晶振探针IC老化座5.0×3.2mm crystal socket测试座  的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于晶振模拟电路测试、烧录、老化,该款为烧录使用
适用引脚间距:1.27mm
适用芯片尺寸:5.0*3.2mm
芯片测试座寿命:10万次
芯片测试电流:1A
芯片测试频率:500Mhz
芯片测试温度:-45~165℃
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:PPS
非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司
工程师技术支持电话微信同号:13715149812