定制BGA132(下针60PIN)-1.0mm尺寸12×18合金翻盖探针老化座

深圳德诺嘉电子生产定制的BGA132(下针60pin)-1 0mm芯片测试座—bga芯片测试夹具 烧录座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介

  • 引脚数: 60PIN
  • 间距: 1.0mm
深圳德诺嘉电子生产定制的BGA132(下针60pin)-1.0mm芯片测试座—bga芯片测试夹具/烧录座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于BGA封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为测试使用
适用引脚间距:1.0mm
适用BGA芯片尺寸:12*18mm
socket本体材质:合金
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座生产厂家:深圳德诺嘉电子有限公司
工程师技术支持电话微信同号:13631539217