定制QFN6-0.5(1.5×1.5)老化座 DFN测试座 WSON老炼座 socket夹具

深圳德诺嘉电子生产的 定制QFN6-0 5(1 5×1 5)老化座 DFN测试座 WSON老炼座 socket夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产

  • 引脚数: 6pin
  • 间距: 0.5mm
深圳德诺嘉电子生产的  定制QFN6-0.5(1.5×1.5)老化座 DFN测试座 WSON老炼座 socket夹具 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于QFN封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为烧录使用
适用引脚间距:0.5mm
适用芯片尺寸:1.5*1.5mm
芯片测试座寿命:10万次
芯片测试电流:1A
芯片测试频率:500Mhz
芯片测试温度:-45~165℃
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:PPS
非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司
工程师技术支持电话微信同号:13715149812