深圳德诺嘉电子生产的 定制QFN21-0.4(3x4)合金翻盖探针测试座夹具IC SOCKET老化座htol的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于QFN封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为烧录使用
适用引脚间距:0.4mm
适用芯片尺寸:3*4mm
芯片测试座寿命:10万次
芯片测试电流:1A
芯片测试频率:500Mhz
芯片测试温度:-45~165℃
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:合金
非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司
工程师技术支持电话微信同号:13715149812
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