深圳德诺嘉电子生产的 定制QFN48-0.4-6×6-0.85合金翻盖老化测试座烧录座hast htol老炼 的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 适用于QFN封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为烧录使用 适用引脚间距:0.4mm 适用芯片尺寸:6*6mm 芯片测试座寿命:10万次 芯片测试电流:1A 芯片测试频率:500Mhz 芯片测试温度:-45~165℃ 芯片测试座结构:翻盖式 芯片测试座材料:铝合金 非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司 工程师技术支持电话微信同号:13715149812