非标QFN32pin-0.89mm-8.84×8.84mm探针芯片老化座—qfn芯片老练夹具

深圳德诺嘉电子生产定制的QFN32pin-0 89mm-8 84×8 84mm探针芯片老化座—qfn芯片老练夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂

  • 引脚数: 32pin
  • 间距: 0.89mm
深圳德诺嘉电子生产定制的非标准品QFN32pin-0.89mm-8.84×8.84mm探针芯片老化座—qfn芯片老练夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于QFN封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化,该款为老化测试使用
适用引脚间距:0.89mm
适用QFN芯片尺寸:8.84*8.84mm
测试寿命:30万次
芯片测试电流:小于1A
芯片测试频率:小于500Mhz
芯片测试温度:-45°~+125°
芯片测试架结构:翻盖式
芯片测试座材料:合金
非标定制厂家:深圳德诺嘉电子有限公司